41. An artificial intelligence approach to VLSI routing
المؤلف: Joobbani, Rostam.
المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Expert systems )Computer science(
42. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
43. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: Singh, Narinder, 6591-
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
44. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
45. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
46. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
47. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
48. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder, 6591-
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
49. An artificial intelligence approach to test generation
المؤلف: / by Narinder Singh
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
50. An artificial intelligence approxch to VLSI design
المؤلف: Kowalski, Thaddeus J.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration ، Integrated circuits,، Artificial intelligence,، Expert systems )Computer science(,، Digital electronics
رده :
TK
7874
.
K675
1985
51. An introduction to VLSI physical design
المؤلف: Sarrafzadeh, Majid.
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Design and construction - Data processing , Computer-aided design
رده :
TK
7874
.
75
.
S27
1996
52. An introduction to VLSI physical design
المؤلف: / M. Sarrafzadeh, C.K. Wong
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Computer-aided design
رده :
TK
,
7874
.
75
,.
S27
,
1996
53. An introduction to VLSI physical design
المؤلف: Sarrafzadeh, Majid.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Computer-aided design
رده :
TK
7874
.
75
.
S27
1996
54. An introduction to VLSI physical design
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits ; Very large scale integration ; Design and construction ; Data processing. ;
55. An introduction to logic circuit testing /
المؤلف: Parag K. Lala
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
56. Analog VLSI
المؤلف: / Shih-Chii Liu ... [et al.]
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Integrated circuits, Very large scale integration.,Linear integrated circuits.
رده :
TK
,
7874
.
75
,.
A397
,
2002
57. Analog VLSI :
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: Integrated circuits, Very large scale integration. ; Linear integrated circuits. ;
58. Analog VLSI
المؤلف: / Mohammed Ismail, Terri Fiez
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration,Linear integrated circuits,Signal processing -- Mathematics
رده :
QA
76
.
5
.
I8
1994
59. Analog VLSI Implementation of Neural systems
المؤلف: / edited by Garver Mead and Mohammed Ismail
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Neural computers - Congresses,Integrated circuts - Very large scale integration - Congresses,Circuits
رده :
QA76
.
5
.
A44
1989
60. Analog VLSI and neural systems /
المؤلف: Carver Mead.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration.,Neural computers-- Circuits.,Neural computers.,Computers, Analog.,Models, Neurological.,Neural Networks (Computer),Circuits intégrés à très grande échelle,Ordinateurs neuronaux,Architecture des ordinateurs.,Circuits intégrés à très grande échelle.,Électronique numérique.,Integrated circuits-- Very large scale integration.,Microordinateurs.,Neural computers-- Circuits.,Neural computers.,Ordinateurs neuronaux.,Réseaux neuronaux (informatique)
رده :
QA76
.
5
.
M39
1989
